舜宇金相顯微鏡：300mm晶圓與17英寸液晶面板檢測的新目標

更新時間：2025-01-20 點擊次數(shù)：1383

　　在現(xiàn)代半導體制造與液晶面板檢測領域，對微觀結構與細節(jié)的精準把控是確保產品質量與性能的關鍵。舜宇金相顯微鏡，憑借其杰出的性能與廣泛的應用能力，已成為300mm晶圓及17英寸液晶面板檢測領域的新目標。

　　舜宇金相顯微鏡采用了突破性的大金相機架設計，可承載8英寸超大工作平臺，并最大支持300mm晶圓及17英寸液晶面板的檢查。這一設計不僅滿足了大型樣品的檢測需求，還確保了檢測過程中的穩(wěn)定與精確。同時，該顯微鏡配備了多種轉盤，可適用不同尺寸的晶圓檢查，進一步提高了檢測的靈活性和適用性。

　　在成像性能上，它采用了新照明系統(tǒng)和光學系統(tǒng)，照明均勻，成像清晰。其全新的觀察筒設計，采用寬光束成像系統(tǒng)，最大觀察視野可達26.5mm，為用戶帶來了全新的大視野體驗。此外，該顯微鏡還配置了高透過率的鏡片和先進的鍍膜技術，可真實還原樣品的自然色彩，確保檢測結果的準確與可靠。

　　舜宇金相顯微鏡還具備強大的檢測功能。它集成了明場、暗場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實際應用進行功能選擇。其中，諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)可將明場觀察下無法檢測的細微高低差轉化為高對比度的明暗差，并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來，廣泛用于LCD導電粒子、精密磁盤表面劃痕檢測等領域。

　　綜上所述，舜宇金相顯微鏡以其杰出的性能、廣泛的應用能力和精準的檢測功能，在300mm晶圓及17英寸液晶面板檢測領域樹立了新的目標。它不僅滿足了現(xiàn)代半導體制造與液晶面板檢測的高精度需求，還為科研人員提供了更加便捷、高效的檢測手段，推動了相關領域的技術進步與發(fā)展。