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國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡微觀世界的納米級(jí)眼睛技術(shù)解析

在高級(jí)制造與精密檢測(cè)領(lǐng)域，國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡正憑借其突破性的技術(shù)原理和強(qiáng)大的核心功能，成為材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵檢測(cè)工具。這項(xiàng)源自光學(xué)成像革命的技術(shù)，通過獨(dú)特的點(diǎn)照明與三維重建機(jī)制，實(shí)現(xiàn)了微觀世界的納米級(jí)觀測(cè)。一、核心技術(shù)原理：突破傳統(tǒng)成像局限國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡采用"光學(xué)切...

2025 10-25

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202312-13
MS測(cè)量顯微鏡在IC芯片引腳缺陷檢測(cè)應(yīng)用
在芯片制造過程中，芯片引腳扮演著連接內(nèi)部電路與外部電路的重要角色，相當(dāng)于芯片的接口。然而在芯片制造過程中，如果引腳出現(xiàn)缺失、破損、偏斜或不平整，容易導(dǎo)致后續(xù)貼片焊接時(shí)出現(xiàn)虛焊、虛接或漏接的問題，進(jìn)而影響芯片的可靠性。芯片引腳缺陷檢測(cè)通常涉及測(cè)量和評(píng)估多個(gè)指標(biāo)，如檢測(cè)引腳外觀、測(cè)量引腳寬度、高度差等，通過綜合評(píng)估這些參數(shù)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的問題并提供預(yù)警，以確保芯片制造的質(zhì)量和可靠性。如何在芯片快速傳輸?shù)倪^程中，高效準(zhǔn)確地對(duì)引腳缺陷進(jìn)行非接觸式測(cè)量分析，是芯片廠商亟待解決的問題...
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